以下是在實際(jì)應用中測(cè)量非晶納米晶材料磁芯損耗的常見方法：

一、功率測量法

1、兩(liǎng)繞組開(kāi)路法：

       将變壓器的副邊(biān)繞組開路，原邊(biān)繞組施加電壓激勵，測量原邊(biān)繞組電流波形和副邊(biān)繞組電壓波形，通過将副邊(biān)電壓和原邊(biān)電流波形相乘並(bìng)積分得到鐵心損耗。該方法隻能測量鐵心的磁損耗，無法測量漏磁渦流損耗。

2、直流功率測(cè)量法：

       通過一個 DC/AC 逆變裝置将直流逆變爲交流作爲被測磁元件勵磁源，由直流側輸入功率獲得被測磁元件損耗，克服瞭(le)交流功率測量方法誤差大的問題。進一步建立逆變裝置本身的多參數損耗精確(què)模型，採用定标的方法有效扣除逆變裝置的雜散損耗，可準確(què)測量磁芯損耗。

二、量熱法

1、原理：

       磁芯損耗會使磁芯發熱，通過測(cè)量磁芯在一定時間内的發熱量來計算磁芯損耗。量熱法的基本原理是根據熱量守恒定律，磁芯損耗産生的熱量等於(yú)磁芯吸收的熱量加上向周圍環境散失的熱量
。

2、操作：

       将非晶納米晶材料磁芯置於(yú)一個絕熱良好的環境中，測(cè)量磁芯在工作一定時間後的溫度升高值，根據磁芯的比熱容、質量以及溫度升高值計算出磁芯吸收的熱量，再考慮散熱等因素，就可以得到磁芯損耗産生的熱量，從而計算出磁芯損耗。

三、基於(yú)專用測試設備(bèi)的測量方法

1、軟(ruǎn)磁材料測(cè)試儀：

       可對被測(cè)樣件施加直流和交流勵磁磁場(chǎng)，測(cè)試樣件在應力作用下的直流和交流磁特性，配合相關夾具和控制系統，可在不同應力、溫度等複雜工況下測(cè)量非晶 / 納米晶合金鐵心的損耗特性。

2、MATS-3110M 矽鋼(gāng)測(cè)量裝置：

       适用於(yú)軟磁材料動态磁性參數測量，可準確(què)測量非晶和納米晶等軟磁材料的交流磁性參數，如比總損耗 Ps、磁極化強度 Jm、磁場強度 Hm、比視在功率 Ss、振幅磁導率，以及交流磁化曲線和損耗曲線。

四、計算法

       阻抗測(cè)量與(yǔ)作差法：

       以測量納米晶鐵心高頻變(biàn)壓器漏磁渦流損耗爲例，将納米晶鐵心高頻變(biàn)壓器的副邊(biān)繞組短路，用阻抗測量儀器測量其短路條件下的交流電阻。再選取與納米晶鐵心高頻變(biàn)壓器具有相同結構和尺寸的鐵氧體鐵心高頻變(biàn)壓器，同樣測量其短路條件下的交流電阻。通過計算納米晶鐵心高頻變(biàn)壓器的磁損耗，結合兩者交流電阻等數據，利用作差法得到納米晶鐵心高頻變(biàn)壓器的漏磁渦流損耗。